测定元素 | Si (用户提供标准样品,日立工程师帮助用户在机器上建立校准曲线) |
测量单位 | g/m2 |
预设校准曲线范围(根据标样) | 0.3~1.6 g/m2 |
样品状态 | 纸张,薄膜 |
分析时间 | 用户可自定义分析时间,典型分析时间是10-300秒。分析结果动态显示功能 |
X射线激发 | 激发电压30kV,750uA,最大功率3瓦,Pd靶X射线管 |
X射线检测 | 高分辨率硅漂移检测器SDD,分辨率优于160eV,可实现多元素检测,无需滤光片即可分开相近元素 |
主要硬件特点 | -不需要氦气 -空气压力自动校正机构 -样品温度自动校正机构 |
数据处理系统 | 集成式多通道能量分析器和数据处理系统 |
分析软件 | 应用于日常分析、再标准化校正、定性分析、定量分析、以及全部的X射线校正模式;日常维护和再标准化校正自动提醒功能 多项自动校正功能:实验室空气压力校正 |
数据显示和存储 | 7英寸工业触屏集成电脑,分辨率480 (H) x 800 (V) ;3个标准USB接口,可实现U盘数据传输;主机内存可储存十万个测试数据及谱图信息 |
电源要求 | 100 – 240 V, 47 / 63 Hz |
外形尺寸和重量 | 长宽高:440X520X155mm,重量16Kg |
仪器使用条件 | 实验室环境温度:10 - 35℃,湿度小于80%,无冷凝水环境 |